全球领先的测试、测量和监测仪器提供商－－泰克公司日前宣告，为超高速USB（USB3.0）设备的测验、调试和自动化一致性测试获取一套完备的新工具组。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上近期发售的USB-TX选件为检验USB3.0发射机获取了自动的一键式测试解决方案，为工程师带给了更加高效的方法，减缓产品开发周期。此外，泰克公司还发售了一整套USB3.0测试夹具，使工程师可以继续执行更加准确的发射机、接收机和电缆测试。
不受来自更加慢数据传输速度的抗拒，USB3.0的性能较当前USB解决方案提升了10倍，但同时也给系统和电路设计人员带给了多重挑战。减少的比特率对关键信号传输和信号保真度明确提出了更高的拒绝，因而必须出现异常精确、功能多样的测试解决方案。当业内其它解决方案只是根据USB-IF测试规范获取标准化测量时，泰克的USB-TX选项则反对所有测量，还包括标准化测试和参考性测试，如扩频时钟（SSC）、切换、电压电公平等。
客户几乎可以信赖其设计检验过程。 其它解决方案只仅限于特定标准化一致性测试，而泰克USB-TX则获取了全面而完备的一系列测验、调试和一致性测试工具。再加唯一需要以最近距离观测芯片的插头式测试夹具，泰克USB3.0测试解决方案可以最现实地体现信号。 我们以求提早试用泰克为超高速USB近期发售的测试解决方案，它为FrescoLogic的USB3.0芯片设计工艺带给的生产效率上的提升令人激动。
FrescoLogic公司首席技术官BobMcVay说道，AWG7000可以继续执行接收机容限测试，并需要很快从发射机一致性测试环境并转到调试。事实证明，AWG7000可以节约大量时间。
高速串行标准自动化框架 选项USB-TX基于TekExpress框架，该框架是专门自动一键式测试高速串行数据标准而研发的。TekExpress模块基于标准机构登录和公布的测试拒绝和构建方法（MOI），所有测试流程皆自动已完成，客户只需自由选择所需的测试，就可以取得还包括通过/告终和余量结果的原始报告。
除新的发售的USB3.0解决方案外，泰克目前还为SATA和DisplayPort获取了自动测试模块。 TekExpress协助工程师们避免了高速串行数据测试工作中的猜测。
在当前环境中，客户要处置多种标准，沦为所有领域的专家，这一点极具挑战性。泰克公司技术解决方案部总经理IanValentine说道，TekExpress获取了客户所需的专业技术，并使得他们需要专心于早日将设计投向市场上。
原始的发射机、接收机和电缆测试解决方案 USB将重新加入其它高速串行标准，如速率约8Gb/s的PCIExpress和6Gb/s的SATA，沦为拒绝更高的技术之一，从而必须先进设备的测量仪器，如泰克近期发售的业内领先的DPO/DSA70000B示波器。泰克动态示波器享有高达20GHz的比特率，获取了业内最杰出的信号保真度、低于的噪底和最低的有效地比特数（ENOB），为低拒绝的一致性测试和调试测试获取了更大的余量和保真度。
对于接收机测试来说，泰克AWG7000B给定波形发生器是唯一可以在一台仪器中分解所有拒绝信号的解决方案。同时，泰克还通过其DSA8200取样示波器获取了电缆和信道测量解决方案。
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